Microscopio elettronico a scansione (SEM) e microanalisi
Lo studio della microstruttura dei materiali è di fondamentale importanza per acquisire informazioni su:
- grado di compattazione (per prodotti non sinterizzati) e di sinterizzazione, con valutazione del livello e tipologia di porosità (porosità chiusa, aperta, morfologia dei pori, loro interconnessione…)
- morfologia e composizione di particelle di polveri
- morfologia e composizione delle diverse fasi – cristalline e non – presenti all’interno di un materiale
- morfologia superficiale.
Caratteristiche tecniche dello strumento
Il microscopio elettronico a scansione (SEM) in dotazione al Centro Ceramico è il modello LEO “EVO 40XVP-M”, Zeiss (D), collegato ad un sistema di microanalisi mod. INCA Energy 250 – Oxford Analytical Instruments Ltd (UK).
Le caratteristiche più rilevanti dello strumento sono:
- modalità di operazioni in alto vuoto (HV) ed in pressione variabile estesa (XVP) nel range da 1 a 750 Pa, per analizzare campioni non conduttivi
- rivelatore di elettroni secondari in alto vuoto (ET-SE), e rivelatore di elettroni retrodiffusi (4QBSE)
- risoluzione di 3 nm ed intervallo di ingrandimenti da 7x a 1.000.000x
- software per analisi elementare qualitative e quantitative, con standard
- software per la mappatura chimica degli elementi e per i profili di concentrazione.
Referente:
Ing. Barbara Mazzanti – e-mail mazzanti@centroceramico.it
Mobile: 340 9631182