Profilometro senza contatto 3D

La metrologia delle superfici svolge due ruoli: il controllo in fase di produzione (sia di processo che delle apparecchiature) e l’ottimizzazione delle performance di prodotto.
Negli ultimi anni, grazie all’affermarsi di una nuova generazione di strumenti di misura, sia a contatto che non, la caratterizzazione della finitura superficiale si è arricchita di nuovi parametri in 3D e di tecniche di visualizzazione che consentono rappresentazioni realistiche della superficie.
Lo strumento di cui è dotato il laboratorio è il LEICA Dual Core Microscope 3D, un sistema di misura ottico non a contatto che permette di caratterizzare le superfici in 3 dimensioni misurando superfici rugose, lisce o superlisce, a risoluzione di micro e nano scala, combinando in un solo strumento la tecnologia confocale e le tecniche di interferometria (VSI, PSI e PSI esteso).
La vantaggiosa combinazione delle due tecniche permette di analizzare un ampio range di superfici, compiendo misurazioni non distruttive ad alta velocità (tempo tipico di scansione per un’immagine: 3s) e alte risoluzioni (fino a 0,1 nm). Lo strumento è in grado di effettuare:

  • mappatura topografica superficiale 3D di un’area selezionata
  • acquisizione di profili o di aree anche estese, con modalità di stitching
  • determinazione dei parametri 3D e 2D di caratterizzazione superficiale secondo la normativa internazionale (EN ISO 4287 e EN ISO 4288 per la definizione dei parametri 2D; ISO 13565 per i parametri 3D)
  • analisi di aree, volumi e altezze delle strutture presenti sulle superfici
  • misure di spessore di strati depositati (anche dell’ordine dei nanometri).

Contatto:
Ing. Barbara Mazzanti- e-mail mazzanti@centroceramico.it
Tel. diretto: 051 0250195

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Profilometro senza contatto 3D - caratterizzazione superficiale


Caratteristiche tecniche dello strumento

  • 4 obiettivi confocali (5x, 10x, 50x, 150x, quest’ultimo con apertura numerica di 0,95) e 1 obiettivo interferometrico (50x)
  • risoluzione: fino a 2 nm in modalità confocale, fino a 0,1 nm in modalità interferometrica
  • sorgenti luminose: LED bianco e LED blu
  • intervallo di scansione verticale: 40 mm
  • campi di applicazione: tutte le tipologie di superfici, lucide o rugose, curve, piane o a gradini, con una riflettività compresa tra 0,1% e il 100%. Il campione non necessita di preparazione.

Servizi per l’industria

  • determinazione dei parametri di rugosità superficiale (Ra, Rz, etc.)
  • mappatura topografica in 3 dimensioni della superficie
  • misure di spessore (smalti, strati serigrafati, rivestimenti)
  • analisi e misurazione dei difetti di superficie (pori, solchi, agglomerati)
  • analisi dell’isotropia della superficie e individuazione delle linee principali di lavorazione.