Microscopio elettronico a scansione (SEM) e microanalisi

Lo studio della microstruttura dei materiali è di fondamentale importanza per acquisire informazioni su:

  • grado di compattazione (per prodotti non sinterizzati) e di sinterizzazione, con valutazione del livello e tipologia di porosità (porosità chiusa, aperta, morfologia dei pori, loro interconnessione…)
  • morfologia e composizione di particelle di polveri
  • morfologia e composizione delle diverse fasi – cristalline e non – presenti all’interno di un materiale
  • morfologia superficiale.

Caratteristiche tecniche dello strumento

Il microscopio elettronico a scansione (SEM) in dotazione al Centro Ceramico è il modello LEO “EVO 40XVP-M”, Zeiss (D), collegato ad un sistema di microanalisi mod. INCA Energy 250 – Oxford Analytical Instruments Ltd (UK).
Le caratteristiche più rilevanti dello strumento sono:

  • modalità di operazioni in alto vuoto (HV) ed in pressione variabile estesa (XVP) nel range da 1 a 750 Pa, per analizzare campioni non conduttivi
  • rivelatore di elettroni secondari in alto vuoto (ET-SE), e rivelatore di elettroni retrodiffusi (4QBSE)
  • risoluzione di 3 nm ed intervallo di ingrandimenti da 7x a 1.000.000x
  • software per analisi elementare qualitative e quantitative, con standard
  • software per la mappatura chimica degli elementi e per i profili di concentrazione.

SEM e microanalisi - microstruttura dei materiali


Servizi per l’industria

  • studio della microstruttura di un materiale sia massivo, sia in forma di riporto sottile
  • analisi della superficie di componenti
  • analisi frattografica di componenti.

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